1、解决多层膜精密测量难题

在微电子和先进封装领域，精确测量厚膜电路、LTCC、光刻胶等复杂多层膜的厚度和形貌，是确保产品性能的关键。传统测量方法难以满足高精度、非接触、高效率的要求。

2、我们的解决方案

我们提供专业的非接触式测量设备，能快速、准确地分析多层薄膜结构。通过先进的光学技术，实现纳米级测量精度，帮助客户管控工艺、提升良率。

3、适用场景

• 半导体封装

• 5G器件制造

• 精密电子元件

4、获取方案

如果您有相关测量需求，欢迎联系我们的技术团队获取详细资料或样品测试。

联系电话：189-2933-9897
邮箱：jeff@effecttek.com