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B系列BA-100 X射线荧光镀层测厚仪
    发布时间: 2022-06-10 16:13    

B系列BA-100 X射线荧光镀层测厚仪




设备技术参数:



项目


技术参数

X射线管

50W(50kV1mA)微聚焦钨靶射线管


探测器


190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

滤波器


4位置一次滤波器/单规格准直器



处理器



英特尔,酷睿i53470处理器(3.2GHz)8GB  DDR3内存



分析能力


5(4+基材)每层分析10种元素,成分分析最多可同时分

25种元素


焦距


激光固定焦距


视频放大倍率


30x:标准  45x:可选


工作环境


温度在10~40℃之间,相对湿度小于98%无冷凝


数字脉冲处理


4096多通道数字处理器  自动死时间逃逸峰校正


重量


34kg


元素测量范围


13号铝元素至92号铂元素

相机


1/4CMOS-1280x720VGA分辨率



电源


150W100~240V频率范围为47Hz~63Hz


尺寸(xx)


 

样品仓:140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13)

外形:450mm(18)   x450mm(18)x600mm(24)



应用领域


B系列可满足以下类型用户的需求:


◆样品测试量相对较小 


◆样品仅需测量一个位置


◆大型线路板镀层的抽检 

    

◆预算有限但希望日后仪器性能能有所提升


◆保证符合IPC-4552A




特点


B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式,配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。




配置:
        

B系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦距相机和SDD探测器。