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PRODUCT CENTER

产品中心


P系列 BA-100 X射线荧光镀层测厚仪
    发布时间: 2024-12-12 18:05    

P系列 BA-100 X射线荧光镀层测厚仪 



产品参数：



项目


技术参数


X射线管


50W(50kV和1mA)微聚焦钨靶射线管


探测器


190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器


滤波器


4位置一次滤波器/4种规格准直器

处理器


英特尔，酷睿i5 3470处理器(3.2GHz)8GB  DDR3内存Windows 10，64位


分析能力



5层(4层+基材)每层分析10种元素，

成分分析最多可同时分析25种元素




焦距


激光多焦距


视频放大倍率


30x:标准  45x:可选


工作环境


温度在10℃~40℃之间，相对湿度小于98%，无冷凝

数字脉冲处理


4096多通道数字处理器  自动死时间

逃逸峰校正


重量


52-70kg


元素测量范围


13号铝元素至92号铂元素


相机


1/4CMOS-1280x720VGA分辨率


电源



150W，100~240V

频率范围为47Hz~63Hz



尺寸(高x宽x深)

Size ( high x wide x deep )


样品仓:140mm(5.5”)x305mm(12”)x330mm(13”)

外形:450mm(18“) x450mm(18“)x600mm(24”)


标准可编辑XY平台



尺寸:380mm(15”)x 330mm(13”)

行程:125mm(5”)x150mm(6”)



可选可编辑XY平台

 


尺寸:625mm(25”)x 625mm(25”)

行程:250mm(10”)x250mm(10”)




领域：


P系列可满足以下类型用户的需求：


◆小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB   


◆需要测试多个样品的多个位置


◆期望在多个样品上实现自动化测量  

    

◆样品尺寸和应用经常变化


◆保证符合IPC-4552A


特点：

  ◆P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。配备一个高精度可编程XY平台，相对固定平台，提供了多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量。


 

配置：

 ◆标准配置包括一个4位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管，SDD探测器可选。