PRODUCT CENTER
产品中心
技术规格:
型 号
ETM-1200
外观尺寸
760*500*500mm
X、Y测量行程
200*200mm
Z轴可调行程
1.6-100mm
有效测量范围
160*160mm
扫描最小步距
1μm
光斑直径
18~30μm
横向分辨率
9~15μm
轴向分辨率
30nm
检测重复精度
0.1μm
与表面角度
90°±2°
测量厚度范围
10~2900μm
适应材质
Si(硅)、Doped-Si(涂层硅)、Sic(碳化硅)、Sapphire(蓝宝石)、GaAs(砷化镓)、Glass(玻璃)、GaN(氮化镓)
测量原理
红外光干涉
电 源
AC220V±10%
重 量
300kg
噪 音
Noise 70db
运行系统
Operational system Win10