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Effecttek易泛特晶圆厚度测量仪
    发布时间: 2022-11-21 16:01    
Effecttek易泛特晶圆厚度测量仪


技术规格:


型     号


ETM-1200


外观尺寸


760*500*500mm


X、Y测量行程


200*200mm


Z轴可调行程 


1.6-100mm


有效测量范围


160*160mm


扫描最小步距


1μm


光斑直径


18~30μm


横向分辨率


9~15μm


轴向分辨率


30nm


检测重复精度


0.1μm


与表面角度


90°±2°


测量厚度范围


10~2900μm


适应材质


Si(硅)、Doped-Si(涂层硅)、Sic(碳化硅)、Sapphire(蓝宝石)、GaAs(砷化镓)、Glass(玻璃)、GaN(氮化镓)


测量原理


红外光干涉


电     源



AC220V±10%


     


300kg


     


Noise 70db


运行系统


Operational system Win10