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高精度非接触式光学膜厚测量仪 E-80
一、产品描述:
本产品采用白光共焦技术与光纤传感系统,专为解决高反光、高透光材质(如玻璃镀层、金属薄膜、树脂涂层)的精准测量难题而设计。通过非接触式光学测量(分辨率达20nm)与高速采样技术(20µs/点),可快速获取膜厚、轮廓、断差等关键数据,支持CPK统计分析与自动化批量检测,显著提升工业质检效率与良品率。
二、技术:
✅ 抗干扰强:光纤传感器实现电-光隔离,避免电磁干扰
✅ 零损伤测量:非接触式技术保护脆弱样品表面
✅ 高效稳定:Y向自动测量+微米级机械精度(重复精度1μm)
✅ 复杂场景适配:自动校准高反光/透明材质,消除传统接触式误差
三、设备技术参数:
分类 参数详情 光学系统 - 测量原理:白光共焦光谱分析 - 光源类型:高稳定性LED宽谱光源 - 分辨率:20nm(标样) - 线性度:±0.05% F.S. 机械性能 - 行程范围:X/Y/Z 130mm×90mm×50mm - 定位精度:±1.5μm - 最大扫描速度:30mm/s - 最小步距:1μm 环境适应性 - 工作温度:10~40℃ - 湿度范围:20%~80% RH(无冷凝) - 抗振动:≤0.5G (10-200Hz) 数据输出 - 接口类型:USB 3.0/千兆以太网 - 软件功能:3D轮廓重建、CPK分析、SPC数据导出(Excel/CSV) 电源与功耗 - 输入电压:AC220V±10%, 50-60Hz - 整机功率:≤300W - 安全认证:CE/ROHS/FCC
分类 | 参数详情 |
光学系统 | - 测量原理:白光共焦光谱分析
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机械性能 | - 行程范围:X/Y/Z 130mm×90mm×50mm
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环境适应性 | - 工作温度:10~40℃
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数据输出 | - 接口类型:USB 3.0/千兆以太网
据导出(Excel/CSV) |
电源与功耗 | - 输入电压:AC220V±10%, 50-60Hz
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光学系统 | - 测量原理:白光共焦光谱分析
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机械性能 | - 行程范围:X/Y/Z 130mm×90mm×50mm
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四、应用场景:
1、半导体封装:
✅芯片焊膏厚度测量(0.1~200μm)
✅BGA球顶高度一致性检测
✅晶圆表面钝化膜厚度分析
2、光学镀膜:
✅增透膜/反射膜分层厚度测量(透明玻璃基底)
✅滤光片膜层均匀性检测
3、3C电子制造:
✅手机盖板玻璃AG涂层厚度控制
✅PCB阻焊油墨厚度在线监测
4、汽车工业:
✅动力电池极片涂布厚度检测
✅电泳漆膜厚自动化批量抽检
五、与传统接触式测量仪对比优势
精度提升:±0.1μm → ±20nm(标样) 速度提升:手动单点测量 → 30mm/s连续扫描 损伤率降低:接触压力导致划痕 → 零接触无损伤 复杂材质兼容:仅适用哑光表面 → 支持镜面/透明材质
工作时间:周一至周六 8:30 — 18:30
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