非接触式膜厚测量仪 E-80

产品描述: 

◆非接触光学测量系统

◆应对各种高反光、高透光材质

◆高速采样，最快周期20µs  

◆强大的CPK统计功能

◆测量轮廓、断差、槽深、膜厚等

技术： 

◆采用白光共焦技术，分辨率达到纳米级，同时采用了光纤传感器，具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点 

◆机械精度达到微米级，运行平稳，跳动小，磨损低 

◆Y向自动测量，重复精度1μm 

应用： 

◆环氧树脂测量 

◆印刷图形测量 

◆激光打标测量 

◆焊膏厚度测量 

◆表面膜厚测量 

设备技术参数: