18929339897

PRODUCT CENTER

产品中心


非接触式膜厚测量仪E-80
    发布时间: 2020-08-10 15:12    

半自动检测设备E-80





产品描述: 

非接触光学测量系统

应对各种材质,线性度±0.5μm

高速采样,最快周期20μs

强大的CPK统计功能

测量轮廓、断差、槽深、高度等


技术: 

采用白光共焦技术,分辨率达到纳米级,同时采用了光纤传感器,具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点 

机械精度达到微米级,运行平稳,跳动小,磨损低 

Y向自动测量,重复精度1μm 


应用: 

环氧树脂测量 

印刷图形测量 

激光打标测量 

焊膏厚度测量 

表面膜厚测量