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非接触式膜厚测量仪E-80
    发布时间: 2020-06-24 17:13    

半自动检测设备E-80





产品描述: 

非接触光学测量系统

应对各种材质,线性度±0.5μm

高速采样,最快周期20μs

强大的CPK统计功能

测量轮廓、断差、槽深、高度等


技术: 

采用白光共焦技术,分辨率达到纳米级,同时采用了光纤传感器,具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点 

机械精度达到微米级,运行平稳,跳动小,磨损低 

Y向自动测量,重复精度1μm 


应用: 

环氧树脂测量 

印刷图形测量 

激光打标测量 

焊膏厚度测量 

表面膜厚测量 



规格: 

项目 

技术参数 

项目 

技术参数 

项目 

技术参数 

外观尺寸 

650*500*600mm 

扫描最少步距 

2um 

重量 

100kg 

测量行程 

80mm 

最大扫描速度 

30mm/s 

噪音 

30db 

Z轴可调行程 

50mm 

检测重复精度 

〈1.0um 

工作环境 

温度22±2℃ 

有效测量范围 

80mm 

电源 

AC220V±10% 50HZ 

工作环境 

湿度45±5%